HAST高壓加速老化試驗箱用 途:HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱,用于車規(guī)級芯片,IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測試其制品的密封性和老化性能。
應(yīng)用領(lǐng)域:
PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……
HAST高壓加速老化試驗箱特 點:
◆ 真空泵浦設(shè)計(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性;
◆ 超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)300小時;
◆ 干燥設(shè)計,試驗終止采真空干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥;
◆ 水位保護,透過爐內(nèi)水位Sensor檢知保護;
◆ 耐壓設(shè)計,箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測試6k;
HAST高壓加速老化試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
AEC Q101(車規(guī)級芯片)
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分:試驗方法.試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(加速抗?jié)裥詽B透)
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
HAST高壓加速老化試驗箱技術(shù)規(guī)格:
型號
SEST-S250
SEST-S350
SEST-S450
SEST-S550
工作室尺寸(cm)
? 25×35
? 30×45
? 40×55
? 50×60
性
溫度范圍
+100℃~+132℃ / +145℃ / +150℃
濕度范圍
100%RH飽和蒸汽(不可調(diào))// 65%RH~100%RH非飽和蒸汽(可調(diào))
溫度均勻度
≤2℃
濕度均勻度
≤±5%RH
壓力范圍
1.2~2.89kg(含1atm)
加壓時間
約45/Min
溫度控制器
中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(SETH/控制軟件)
循環(huán)方式
強制對流循環(huán)方式
結(jié)構(gòu)
標(biāo)準(zhǔn)壓力容器
加濕系統(tǒng)
電熱管
加濕用水
蒸餾水或去離子水(自動補水)
Bias偏壓端子
含偏壓端子(選配訂購時需注明)
加壓方式
1.鍋爐蒸汽加壓;2.外部氣體加壓
材料
外殼材料
冷軋鋼板靜電噴塑(SETH/標(biāo)準(zhǔn)色)
內(nèi)壁材料
SUS316不銹鋼板
保溫材料
玻璃纖維棉
電壓
220V~240V 50/60HZ單相
能